高低溫環(huán)境試驗箱可以用來考核和確定電工、電子產品或材料在溫度循環(huán)變化，產品表面產生低溫環(huán)境條件下貯存和使用的適應性。設備采用強迫空氣循環(huán)來保持工作室內溫度的均勻性。為限制輻射影響，設備內壁各部分溫度與試驗規(guī)定的溫度之差不大于8%，且試驗樣品不會受到設備內加熱與冷卻元件的直接輻射。參照標準：低溫試驗箱滿足GB/T2423.1-2008試驗A《低溫試驗方法》；GB/T2423.2-2008試驗B《高溫試驗方法》以及其它相關標準的要求，可進行各種高低溫環(huán)境試驗。

      制冷循環(huán)均采用逆卡若循環(huán)，該循環(huán)由兩個等溫過程和兩個絕熱過程組成，其過程如下：制冷劑經壓縮機絕熱壓縮到較高的壓力，消耗了功使排氣溫度升高，之后制冷劑經冷凝器等溫地和四周介質進行熱交換將熱量傳給四周介質。后制冷劑經截流閥絕熱膨脹做功，這時制冷劑溫度降低。zui后制冷劑通過蒸發(fā)器等溫地從溫度較高的物體吸熱，使被冷卻物體溫度降低。此循環(huán)周而復始從而達到降溫之目的。